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第28回基礎セミナー テーマ：「表面分析(II) ～ 顕微鏡」 場所：ファインセラミックスセンター（JFCC） 日時：2017年1月20日（金）、13時〜17時半 プログラム： ・13:00～13:05 はじめに 宮崎 誠一（名古屋大学） ・13:05～13:50 光学顕微鏡 大内 由美子（ニコン） ・13:50～14:35 SEM・EDX・EBSD 森田 博文（オックスフォード） ・14:35～14:50 休憩 ・14:50～15:35 プローブ顕微鏡（SPM） 吉村 雅満（豊田工大） ・15:35～16:20 透過型電子顕微鏡（TEM） ・16:30～17:30 施設見学ツアー |
 第27回基礎セミナー「表面分析(I) ～ 回折・分光法」 26.43 MB
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場所：あいち産業科学技術総合センター (本部) 1階 講習会室 日時：2016年10月28日（金）、13時〜17時半 プログラム： ・13:00～14:00 施設見学ツアー ・14:10～14:15 はじめに 宮崎 誠一（名古屋大学） ・14:15～15:00 ラマン分光、赤外分光法 田代 孝二（豊田工大） ・15:00～15:45 X線回折、電子回折 堀尾 吉已（大同大学） ・15:45～16:00 休憩 ・16:00～16:45 Ｘ線光電子分光法、オージェ分光法 下村 勝（静岡大学） ・16:45～17:30 Ｘ線吸収分光法 磯村 典武（豊田中研） |
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第26回基礎セミナー「ナノスピン構造の作製・評価技術」 14.17 MB
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日程：2015年8月3日（月）13:00～17:00 場所：名古屋大学VBLベンチャーホール プログラム： ・13:00～13:10 開会の辞 ・13:10～13:50 「機能性磁性薄膜とその評価技術」 加藤 剛志（名古屋大学） ・13:50～14:30 「UVSORにおけるスピン分解角度分解光電子分光」 田中 清尚（分子研） ・14:50～15:30 「スピン偏極電子源とその磁性体観察の可能性」 桑原 真人（名古屋大学） ・15:30～16:10 「マルチフェロイック薄膜のエピタキシャル成長と歪制御」 浅野 秀文（名古屋大学） ・16:10～16:50 「マルチフェロイックスとその関連物質の構造物性評価」 浅香 透（名古屋工業大学） ・16:50～17:00 閉会の辞 |
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第25回基礎セミナー「超精密加工技術と応用」 4.00 KB
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日程：2014年11月19日（水）13:00～17:00 場所：中部大学工学部ファカルテイルーム プログラム： ・中性子光学素子の超精密加工と小型中性子源への応用 山形 豊（理化学研究所） ・最新のナノインプリント技術とその応用事例 小久保 光典（東芝機械株式会社） ・マイクロダイヤモンド工具を用いた超精密機械加工によるマイクロ構造の創成 鈴木 浩文（中部大学） ・超精密加工実験設備見学 （中部大学内） |
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第24回基礎セミナー「バイオメディカルエンジニアリング」 13.01 MB
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日程：2014年9月5日（金）10:00～17:30 場所：名古屋大学VBLベンチャーホール プログラム： ・呼吸器内科の臨床現場における医用工学技術の重要性 川部 勤（名大医） ・画像処理による医用画像の認識理解と診断治療支援への応用 森 健策（名大情） ・レーザーを用いた眼科診断・治療装置 足立 宗之（ニデック） ・歯髄再生医療と医工学 庵原 耕一郎（長寿研） ・生体試料の超解像蛍光イメージング 山中 真仁（名大工） ・非線形顕微鏡の生体への応用 西村 智（東大医） ・医療応用を目指した２光子励起光音響顕微鏡 山岡 禎久（京都府立医大） |
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第23回基礎セミナー「薄膜の評価技術 -最先端評価技術の展開-」 26.97 MB
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場所：名古屋大学VBLベンチャーホール プログラム： ・X線回折の基礎：結晶・薄膜の構造評価法 一野 祐亮（名古屋大学） ・固体材料の電気的特性と評価法 本田 善央（名古屋大学） ・TEMを用いた材料評価 斉藤 晃（名古屋大学） ・レーザーを用いた最先端評価－cwレーザーから超短パルスレーザーまで－ 小山 剛史（名古屋大学） ・超強磁場マグネット開発と強磁場物性研究－東北大金研の例を中心として－ 淡路 智（東北大） ・ヘテロエピタキシャル成長とその場観察 三宅 秀人（三重大学） ・磁性薄膜の高空間・高時間分解計測技術 加藤 剛志（名古屋大学） |
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第22回基礎セミナー「大気圧プラズマ -基礎から最新応用トピックまで-」 2.75 MB
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場所：中部大学名古屋キャンパス三浦記念会館 プログラム： ・大気圧プラズマ基礎－生成を中心として－ 原 民夫（豊田工大） ・大気圧プラズマ基礎－プロセスを中心として－ 永津 雅章（静岡大） ・大気圧プラズマ応用－実プロセス装置を中心として－ 川角 哲徳（富士機械製造） ・大気圧プラズマ応用－材料分野を中心として－ 高島 成剛（PLACIA） |
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第21回基礎セミナー「エネルギー・環境材料のための透過型電子顕微鏡・シンクロトロン光最新評価技術」 3.63 MB
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場所：名古屋大学工学部ES 総合館・ES 会議室 プログラム： ・超高分解能STEMによる原子構造・電子状態計測の実際 －エネルギー ･ 環境材料に役立つナノ・サブナノスケール計測の世界－ 山本 剛久（名古屋大学） ・反応科学超高圧電子顕微鏡を使った研究支援 荒井 重勇（名古屋大学） ・軟X線であらゆる材料の評価を実施する －ありのままの材料の化学状態が見える：絶縁体も液体試料も－ 八木 伸也（名古屋大学） ・電池材料・環境評価に多用されるツール 硬X線XAFS/蛍光X線測定の実際 －化学状態・局所構造・元素分析－ 田渕 雅夫（名古屋大学） |
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第20回基礎セミナー「バイオメディカルフォトニクス」 6.19 MB
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日程：2013年1月18日（金）10:00～17:40 場所：名古屋大学工学部ES 総合館・ES 会議室 プログラム： ・眼科臨床の場で進む工学技術の応用 伊藤 逸毅（名古屋大学） ・光学技術を用いた眼科用機器の開発 伊藤 晃一（ニデック） ・OCTの開発と生理学分野への応用 近江 雅人（大阪大学） ・内視鏡技術の進展 五十嵐 誠 （オリンパスメディカルシステムズ） ・光を用いた細胞内部の超解像イメージング 藤田 克昌（大阪大学） ・ファイバレーザーベースバイオメディカル用光源 西澤 典彦（名古屋大学） ・バイオメディカル用近赤外広帯域発光素子 渕 真悟（名古屋大学） |
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第19回基礎セミナー「透明導電膜-基礎から応用-」 9.75 MB
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日程：2012年9月24日（月）10:00～17:35 場所：岐阜大学全学共通教育棟1階多目的ホール プログラム： ・透明導電膜の基礎 吉野 賢二（宮崎大学） ・酸化物透明導電膜の製膜技術 大矢 豊（岐阜大学） ・透明導電性酸化物結晶とその薄膜結晶の評価 山家 光男（岐阜大学） ・酸化物半導体表面へのナノ構造形成技術 杉浦 隆（岐阜大学） ・酸化物導電膜の応用～薄膜シリコン太陽電池用基板 高橋 亮 （旭硝子株式会社中央研究所） |
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第18回基礎セミナー「薄膜の評価技術」 10.23 MB
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日程：2010年5月12日（水）10:00～16:35 場所：名古屋大学VBLベンチャーホール プログラム： ・薄膜の堆積技術の基礎と実践 井上 泰志（名古屋大学） ・Ｘ線回折法による薄膜及び多層膜の構造解析 岩田 聡（名古屋大学） ・薄膜の機械的特性 逆井 基次（豊橋技術科学大学） ・電子分光法（XPS、UPS、AES) 堂前 和彦（豊田中研） ・エリプソメトリ法 白藤 立（名古屋大学） |
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第17回基礎セミナー「イメージング技術の最前線」 10.82 MB
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日程：2010年10月20日（水）10:00～17:00 場所：静岡大学浜松キャンパス佐鳴会館 プログラム： ・古くて新しいX線イメージング 青木 徹 （静岡大学電子工学研究所） ・ＩＣＧ蛍光法の原理と医用応用 三輪 光春 （浜松ホトニクス株式会社） ・集積化センサ技術によるバイオイメージングデバイス 澤田 和明（豊橋技科大学） ・テラヘルツ分光・イメージングの基礎と実際 廣本 宣久 （静大創造科学技術大学院） |
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第16回基礎セミナー「薄膜の評価技術」 4.05 MB
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日程：2010年5月12日（水）10:00～16:35 場所：名古屋大学VBLベンチャーホール プログラム： ・薄膜の堆積技術の基礎と実践 井上 泰志（名古屋大学） ・Ｘ線回折法による薄膜及び多層膜の構造解析 岩田 聡（名古屋大学） ・薄膜の機械的特性 逆井 基次（豊橋技術科学大学） ・電子分光法（XPS、UPS、AES) 堂前 和彦（豊田中研） ・エリプソメトリ法 白藤 立（名古屋大学） |
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第15回基礎セミナー「薄膜の評価技術」 7.07 MB
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日程：2009年9月14日（月）13:00～17:25 場所：名古屋大学VBLベンチャーホール プログラム： ・薄膜の基礎 －計算科学の立場から－ 伊藤 智徳（三重大学） ・プローブ顕微鏡(SPM)の基礎と応用 吉村 雅満（豊田工大） ・反射電子線回折法 堀尾 吉已（大同工大） ・透過電子顕微鏡法 齋藤 晃（名古屋大学） ・フォトルミネッセンス法とラマン分光法 濱中 泰（名古屋大学） |
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第14回基礎セミナー「先端材料開発のための結晶成長の基礎と応用」 3.18 MB
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場所：名古屋大学IB電子情報館1階IB013講義室 プログラム： ・MOCVDの基礎と応用 若原 昭浩（豊橋技科大） ・分子線エピタキシー法の基礎と応用 山口 雅史（名古屋大学） ・マグネトロンスパッタによる多層膜の作製技術 岩田 聡（名古屋大学） ・溶液法の基礎とSiC結晶成長への応用 宇治原 徹（名古屋大学） |
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第13回基礎セミナー「薄膜の評価技術」 24.43 MB
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日程：2008年9月16日（火）、9月17日（水） プログラム： 9月16日（火）10:00～17:20 ・薄膜の基礎 －計算科学の立場から－ 伊藤 智徳（三重大学） ・光学顕微鏡 田中 隆明（オリンパス） ・プローブ顕微鏡(SPM)の基礎と応用 吉村 雅満（豊田工大） ・X線回折法による薄膜および多層膜の構造解析 岩田 聡（名古屋大学） ・X線小角散乱法 田代 孝二（豊田工大） ・薄膜の機械的特性評価 井上 泰志（名古屋大学） 9月17日（水）9:30～17:00 ・電子回折法（LEED, RHEED） 堀尾 吉已（大同工大） ・透過電子顕微鏡法 齋藤 晃（名古屋大学） ・SIMSとその応用 江龍 修（名古屋工業大） ・エリプソメトリ法 白藤 立（京都大学） ・フォトルミネッセンス法とラマン分光法 濱中 泰（名古屋工業大） |
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第12回基礎セミナー「エネルギーと環境技術」 8.15 MB
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日程：2008年3月7日（金）10:00～17:25 場所：名古屋大学IB電子情報館1階IB015講義室 プログラム： ・結晶シリコン太陽電池の現状と課題 大下 祥雄（豊田工業大） ・ナノ構造酸化亜鉛電析膜を用いた色素増感太陽電池 吉田 司（岐阜大学） ・自動車用燃料電池技術の現状と課題 朝岡 賢彦（豊田中研） ・熱電変換材料としての金属酸化物の可能性 太田 裕道（名古屋大学） ・低温度域民生用熱電素子及びシステムの開発と応用 堀尾 裕磨（ヤマハ） |
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第11回基礎セミナー「薄膜の評価技術」 25.01 MB
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日程：2007年9月25日（火）、9月26日（水） 場所：名古屋大学工学研究科1号館4階142講義室 プログラム： 9月25日（火）10:00～17:20 ・薄膜の基礎 －計算科学の立場から－ 伊藤 智徳（三重大学） ・光学顕微鏡 田中 隆明（オリンパス） ・走査プローブ顕微鏡 吉村 雅満（豊田工大） ・X線回折法による薄膜および多層膜の構造解析 岩田 聡（名古屋大学） ・SIMSとその応用 江龍 修（名古屋工業大） ・薄膜の機械的特性評価 井上 泰志（名古屋大学） 9月26日（水）9:30～17:00 ・電子分光法 (XPS, UPS, AES) 堂前 和彦（豊田中研） ・電子回折法（LEED, RHEED） 堀尾 吉已（大同工大） ・透過電子顕微鏡法 齋藤 晃（名古屋大学） ・X線小角散乱法 奥田 浩司（京都大学） ・エリプソメトリ法 白藤 立（京都大学） ・フォトルミネッセンス法とラマン分光法 濱中 泰（名古屋工業大） |
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第10回基礎セミナー「人間の五感センサーに迫る－基礎と応用から最先端研究まで－」 11.92 MB
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場所：名古屋大学シンポジオン プログラム： ・イメージセンサの基礎と先端技術 川人 祥二（静岡大学） ・超音波を利用した化学反応 安井 久一 （産業技術総合研究所（中部）） ・感性バイオセンサ 都甲 潔（九州大学） ・ガス・センシングの基礎から応用 玉置 純（立命館大学） ・触覚センサーとその応用 下条 誠（電気通信大学） ・カーボンナノチューブを用いたバイオセンサー 松本 和彦（大阪大学） |
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第9回基礎セミナー「薄膜の評価技術」 21.77 MB
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日程：2006年9月28日（木）、29日（金） 場所：名古屋工業大学2号館F1教室 プログラム： 9月28日（木）10:00～17:20 ・薄膜成長の基礎 上羽 牧夫（名古屋大学） ・光学顕微鏡 田中 隆明（オリンパス） ・電子顕微鏡：SEMおよびTEM 酒井 朗（名古屋大学） ・SIMSとその応用 江龍 修（名古屋工業大学） ・走査プローブ顕微鏡 吉村 雅満（豊田工大） ・薄膜の機械的特性評価 井上 泰志（名古屋大学） 9月29日（金）9:30～17:00 ・電子分光法 (XPS, UPS, AES) 堂前 和彦（豊田中研） ・電子回折法（LEED, RHEED） 堀尾 吉已（大同工大） ・フォトルミネッセンス法 藤原 康文（大阪大学） ・不純物準位分光評価(DLTS)法 徳田 豊（愛知工大） ・エリプソメトリ法 白藤 立（京都大学） ・X線回折法による多層膜の構造解析 岩田 聡（名古屋大学） |
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第8回基礎セミナー「光測定の基礎から最先端技術まで」 10.86 MB
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日程：2006年3月7日（火）10:00～16:55 プログラム： ・光測定の基礎 田澤 真人（産総研） ・紫外・可視分光の基礎と、最近の応用例 江畠 佳定 （日立ハイテクノロジーズ） ・赤外分光の基礎と種々の測定法 柘植 明（産総研） ・ラマン分光法の基礎と新たな展開 飯田 康夫（産総研） ・近赤外超短パルス光源の基礎と応用 西澤 典彦（名古屋大学） ・テラヘルツ技術の基礎と動向 裵 鐘石（名古屋工業大学） ・近接場光学顕微鏡の基礎と応用 中村 新男（名古屋大学） |
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第7回基礎セミナー「薄膜の評価技術」 19.64 MB
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日程： 2005年9月29日（木）、9月30日（金） 場所：名古屋工業大学 プログラム： 9月29日（木）10:00～17:20 ・はじめに 藤巻 朗（名古屋大学） ・光学顕微鏡 田中 隆明（オリンパス） ・高分解能薄膜Ｘ線回折によるエピタキシャル薄膜の結晶性評価 太田 裕道（名古屋大学） ・電子顕微鏡(SEM, TEM) 酒井 朗（名古屋大学） ・SIMSとその応用 江龍 修（名古屋工業大学） ・走査プローブ顕微鏡 吉村 雅満（豊田工大） ・薄膜の機械的特性評価 井上 泰志（名古屋大学） 9月30日（金）9:30～17:00 ・電子回折法(LEED, RHEED) 堀尾 吉已（大同工大） ・電子分光法(XPS, UPS, AES) 堂前 和彦（豊田中研） ・フォトルミネッセンス法 藤原 康文（大阪大学） ・DLTS法の原理とその応用 徳田 豊（愛知工大） ・エリプソメトリ法 白藤 立（京都大学） ・まとめ 生田 博志（名古屋大学） |
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第6回基礎セミナー「光測定の基礎と応用」 10.51 MB
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日程：2005年1月25日（火） プログラム： ・はじめに 田澤 真人（産総研） ・光測定の基礎 西澤 典彦（名古屋大学） ・紫外・可視分光 江畠 佳定 （日立ハイテクノロジーズ） ・赤外分光 柘植 明（産総研） ・ラマン分光 飯田 康夫（産総研） ・エリプソメトリ 川畑 州一（東京工芸大） ・光学顕微鏡 大家 清 （ニコンインステック） ・近接場光学の基礎と近接場顕微鏡 中村 新男（名古屋大学） |
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第5回基礎セミナー「薄膜の評価技術」 17.65 MB
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日程：2004年9月16日（木）、17日（金） プログラム： 9月16日（木） ・X線回折の基礎：結晶・薄膜の構造及び表面評価法 高田 昌樹 （高輝度光科学研究センター） ・電子顕微鏡による薄膜の構造解折 田中 信夫（名古屋大学） ・RBSによる薄膜の組成分析 中尾 節男（産業総合研究所） ・SIMSとその応用 江龍 修（名古屋工業大学） ・走査プローブ顕微鏡による表面分析 吉村 雅満（豊田工大） 9月17日（金） ・XPS，UPS及びオージェ電子分光を用いた表面分析 堂前 和彦（豊田中研） ・薄膜の機械的特性 井上 泰志（名古屋大学） ・フォトルミネセンス法と薄膜評価 藤原 康文（大阪大学） ・DLTSの原理とその応用 徳田 豊（愛工大） ・車載用半導体デバイスの故障解析 後藤 安則（トヨタ自動車） ・まとめ 川橋 憲（トヨタ自動車） |
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第4回基礎セミナー「バイオナノテクノロジー」 10.32 MB
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日程：2004年1月23日（金） プログラム： ・デバイス炸裂におけるバイオナノテクノロジー 岩堀 健治（科学技術振興機構） 山下 一郎（松下電器・奈良先端大） ・高速AFMによる生体分子のナノダイナミックス撮影 安藤 敏夫（金沢大学理学部） ・人工ナノ構造を用いたDNA分離 川浦 久雄（NEC基礎研） ・DNAナノワイヤの配列制御 中尾 秀信（食品総合研究所） ・生体１分子の構造変化はその精度まで計測できるか？ 佐々木 裕次 （Spring-8、JST/CREST） ・バイオミメティックアプローチによる新機能性材料の開発 井上 泰志（名古屋大学） ・生体超分子ナノマシン最近ベン毛の自己構築とスイッチ機構 難波 啓一（大阪大学） |
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第3回基礎セミナー「薄膜の評価技術」 21.41 MB
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日程：2003年7月17日（木）、18日（金） プログラム： 7月17日（木） ・X線回折の基礎：薄膜の構造及び表面評価法 高田 昌樹（名古屋大学） ・電子顕微鏡による薄膜の構造解折 酒井 朗（名古屋大学） ・走査プローブ顕微鏡による表面分析 吉村 雅満（豊田工大） ・磁性薄膜の炸裂と評価 神保 睦子（大同工業大学） ・撥水性薄膜の炸裂と評価 高井 治（名古屋大学） ・SiC半導体の表面／海面分析 久田 祥之（デンソー） 7月18日（金） ・フォトルミネッセンス法と薄膜評価への応用 藤原 康文（名古屋大学） ・SIMSとその応用 江龍 修（名古屋工業大学） ・XPS,UPS及びオージェ電子分光を用いた表面分析 後藤 敬典（名古屋工業大学） ・超伝導薄膜の炸裂と評価 吉田 隆（名古屋大学） ・誘電体薄膜の炸裂と評価 白杵 辰朗（三洋電機） |
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第2回基礎セミナー テーマ：「2002年国際固体素子・材料コンファレンスショートコース」 この回は、2002年国際固体素子・材料コンファレンス(SSDM)にて、「ナノテクノロジーが切り開く新展開」と 「ブロードバンド社会と半導体技術」をテーマとしたショートコースとして開催した。 日程：2002年9月20日（月）9:50～16:40 会場：名古屋国際会議場 2F Room A, Room C プログラム： 1. ショートコースA 「ナノテクノロジーが切り開く新展開」オーガナイザー 石田 誠（豊橋科学技術大学) ・ナノテクノロジーの動向と展望 中村 道治（日立) ・ナノシステム-マイクロマシンとナノテクの融合 藤田 博之（東京大学) ・ヒトゲノムとナノテクノロジー 菅野 純夫（東京大学) ・カーボンナノチューブとナノデバイス応用 松本 和彦（産総研) ・分子ナノデバイス 山田 恭雄（日立) ・ゆらぎとナノテクノロジー 山田 啓作（早稲田大) 2. ショートコースB 「ブロードバンド社会と半導体技術」オーガナイザー 山田 雅雄（富士通) ・ブロードバンドがもたらす社会構造の変化 並木 淳治（日本電気) ・ブロードバンド時代を支える移動体・無線技術および光通信技術の動向と展望 笹瀬 巌（慶應義塾大) ・RF対応化合物半導体技術 (松下電器) ・SOC時代のRF CMOS技術 大黒 辰也（東芝) ・フィールド・プログラマブルデバイスの台頭 早田 雅彦（日本アルテラ) ・テラビット／秒時代の大容量光通信技術 尾中 寛（富士通研究所) |
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第1回基礎セミナー「薄膜の評価技術」 16.37 MB
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日程：2002年7月25日（木）、26日（金） プログラム： 7月25日（木） ・X線回折の基礎：結晶・薄膜の構造及び表面評価法 高田 昌樹（名古屋大学） ・TiO2薄膜の構造回折と光触媒効果 吉村 和記（産総研） ・電子顕微鏡による表面分析 酒井 朗（名古屋大学） ・カーボンナノチューブの構造評価と応用 齋藤 弥八（三重大学） ・走査プローブ顕微鏡による表面分析 吉村 雅満（豊田工大） 7月26日（金） ・フォトルミネッセンス法と薄膜評価への応用 藤原 康文（名古屋大学） ・ナイトライド系半導体の結晶成長とフォトルミネッセンスによる結晶の評価 天野 浩（名城大学） ・SIMSとその応用 江龍 修（名古屋工業大学） ・XPS, UPS及びオージェ電子分光を用いた表面分析 後藤 敬典（名古屋工業大学） ・有機エレクトロルミネッサンス素子の炸裂と評価 森 竜雄（名古屋大学） |
