テーマ：「薄膜の評価技術」

日時：2009年9月14日（月）13:00～17:25

プログラム：（敬称略）
「薄膜の基礎 －計算科学の立場から－」（三重大 伊藤智徳）
「プローブ顕微鏡(SPM)の基礎と応用」（豊田工大 吉村雅満）
「反射電子線回折法」（大同工大 堀尾吉已）
「透過電子顕微鏡法」（名古屋工大 齋藤晃）
「フォトルミネッセンス法とラマン分光法」（名大　濱中泰）