テーマ:「薄膜の評価技術」

日時:2006年9月28日(木)10:00~17:20 9月29日(金)9:30~17:00

プログラム:(敬称略)
9月28日
「薄膜成長の基礎」(名大 上羽牧夫)
「光学顕微鏡」(オリンパス 田中隆明)
「電子顕微鏡:SEMおよびTEM」(名大 酒井 朗)
「SIMSとその応用」(名工大 江龍 修)
「走査プローブ顕微鏡」(豊田工大 吉村雅満)
「薄膜の機械的特性評価」(名大 井上泰志)

9月29日
「電子分光法 (XPS, UPS, AES)」(豊田中研 堂前和彦)
「電子回折法(LEED, RHEED)」(大同工大 堀尾吉已)
「フォトルミネッセンス法」(阪大 藤原康文)
「不純物準位分光評価(DLTS)法」(愛知工大 徳田 豊)
「エリプソメトリ法」(京都大 白藤 立)
「X線回折法による多層膜の構造解析」(名大 岩田 聡)