メインテーマ「表面、界面のミクロ構造観察」

開催日：1991年1月6日

プログラム：
(1)「同軸型直衝突イオン散乱分光法（CAICISS）による観察」
　　青野正和　氏　（理研）
(2)「高分解能電子顕微鏡による観察」
　　飯島澄男　氏　（日本電気基礎研）